微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-04-10
關(guān)鍵詞:鉭鈮礦石檢測(cè)機(jī)構(gòu),鉭鈮礦石檢測(cè)方法,鉭鈮礦石檢測(cè)周期
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
主成分定量分析:鉭(Ta?O?)、鈮(Nb?O?)氧化物含量測(cè)定
伴生元素檢測(cè):鐵(Fe)、錳(Mn)、鈦(Ti)、錫(Sn)、鎢(W)等金屬元素分析
有害元素篩查:鈾(U)、釷(Th)等放射性核素含量測(cè)定
物理特性測(cè)試:礦石密度、硬度、粒度分布及解離度評(píng)估
礦物組成鑒定:鉭鐵礦-鈮鐵礦系列礦物定量分析
原礦類型:花崗偉晶巖型、碳酸巖型、砂礦型等成因礦床樣本
加工產(chǎn)物:鉭鈮精礦、中間產(chǎn)物及尾礦殘留物
工業(yè)原料:電容器級(jí)鉭粉原料、高溫合金添加劑前驅(qū)體
特殊形態(tài):鉭鈮復(fù)合氧化物陶瓷材料、冶金級(jí)氟鉭酸鉀制品
環(huán)境樣本:礦區(qū)土壤、水體中鉭鈮遷移形態(tài)監(jiān)測(cè)
X射線熒光光譜法(XRF):建立標(biāo)準(zhǔn)曲線法測(cè)定Ta/Nb主量元素含量
電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS):同位素稀釋技術(shù)實(shí)現(xiàn)ppb級(jí)痕量元素分析
化學(xué)滴定法:過(guò)硫酸銨氧化-硫酸亞鐵銨返滴定測(cè)定高含量Nb?O?
中子活化分析(NAA):非破壞性測(cè)定U/Th等放射性元素
掃描電子顯微鏡-能譜聯(lián)用(SEM-EDS):微區(qū)成分分析與礦物形貌表征
激光粒度分析:濕法分散測(cè)定礦石顆粒D50值及分布曲線
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀:配備Rh靶X光管及4kW高壓發(fā)生器
高分辨電感耦合等離子體質(zhì)譜儀:具備碰撞反應(yīng)池及質(zhì)量偏轉(zhuǎn)功能
全自動(dòng)化學(xué)分析工作站:集成微波消解與自動(dòng)滴定模塊
顯微共焦拉曼光譜儀:配備532nm/785nm雙激光源及低溫樣品臺(tái)
同步熱分析儀:同步測(cè)定TG-DSC曲線評(píng)估礦物熱穩(wěn)定性
激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS):現(xiàn)場(chǎng)快速篩查礦石品位分布
伽馬能譜儀:高純鍺探測(cè)器實(shí)現(xiàn)放射性核素活度測(cè)量
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件