中析研究所檢測中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址：
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議：
010-82491398
報(bào)告問題解答：
010-8646-0567
檢測領(lǐng)域：
成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間：2025-04-10
關(guān)鍵詞：云母電容檢測周期,云母電容檢測標(biāo)準(zhǔn),云母電容試驗(yàn)儀器
瀏覽次數(shù)：
來源：北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測試暫不接受委托，望見諒。
云母電容的核心檢測項(xiàng)目包括以下七類：
電容量偏差：實(shí)測值與標(biāo)稱值的允許誤差范圍（±1%~±20%）
耐壓強(qiáng)度：直流/交流擊穿電壓測試（1.5~3倍額定電壓）
損耗角正切（tanδ）：高頻下介質(zhì)損耗特性（≤0.002@1MHz）
絕緣電阻：極間電阻值（≥10GΩ·μF）
溫度特性：-55℃~+125℃環(huán)境下的容量變化率（≤±0.5%）
頻率特性：1kHz~100MHz范圍內(nèi)的容量穩(wěn)定性
機(jī)械耐久性：振動(dòng)/沖擊試驗(yàn)后的參數(shù)漂移量
檢測對象涵蓋以下四類云母電容：
| 分類維度 | 具體類型 |
|---|---|
| 封裝形式 | 模壓型/金屬殼封裝/環(huán)氧包封 |
| 電極結(jié)構(gòu) | 箔式電極/被銀電極/金屬化電極 |
| 應(yīng)用場景 | 高頻電路/脈沖電路/濾波電路/諧振電路 |
| 特殊性能 | 高Q值型/耐高溫型/超穩(wěn)定型 |
采用四端對LCR表在23±2℃環(huán)境下進(jìn)行測量：
1. 預(yù)置測試頻率（1kHz/1MHz）
2. 施加0.5Vrms測試信號(hào)
3. 自動(dòng)補(bǔ)償引線電感誤差
4. 三次測量取平均值
直流耐壓測試流程：
1. 以100V/s速率升壓至規(guī)定值
2. 保持60±5秒
3. 漏電流閾值設(shè)定為5μA
4. 記錄擊穿電壓及泄漏電流曲線
-55℃?+125℃交變試驗(yàn)：
1. 每個(gè)溫區(qū)保持30分鐘
2. 轉(zhuǎn)換時(shí)間≤5分鐘
3. 完成10次循環(huán)后
4. 恢復(fù)4小時(shí)測量參數(shù)漂移量
| 儀器類型 | 技術(shù)指標(biāo) | 應(yīng)用場景 |
|---|---|---|
| 精密LCR表 | 0.05%基本精度 1MHz測試頻率 四端對接口 | 電容量/損耗因數(shù)測量 |
| 耐壓測試儀 | 0~5kV可調(diào) 分辨率0.1μA ARC保護(hù)功能 | 絕緣強(qiáng)度驗(yàn)證 |
| 高低溫試驗(yàn)箱 | -70℃~+180℃ ±0.5℃控溫精度 快速溫變功能 | 溫度特性評估 |
| 頻譜分析儀 | 9kHz~3GHz -120dBc動(dòng)態(tài)范圍 TDR時(shí)域反射功能 | 高頻特性分析 |
| x射線測厚儀 | 5μm分辨率 多層結(jié)構(gòu)解析功能 | 內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷檢測 |
*所有儀器均需定期通過CNAS認(rèn)可的計(jì)量機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，確保測量結(jié)果符合ISO/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)要求。
1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件
