微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-07-04
關(guān)鍵詞:聲表面波諧振器測(cè)試案例,聲表面波諧振器測(cè)試范圍,聲表面波諧振器項(xiàng)目報(bào)價(jià)
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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見諒。
中心頻率測(cè)試:測(cè)量諧振器標(biāo)稱工作頻率,精度±100ppm,頻率范圍10MHz-3GHz
插入損耗檢測(cè):評(píng)估信號(hào)傳輸損耗值,典型測(cè)試范圍0.5-15dB,分辨率0.01dB
品質(zhì)因數(shù)(Q值)測(cè)定:計(jì)算諧振器能量存儲(chǔ)效率,測(cè)試條件20℃±1℃,標(biāo)準(zhǔn)值>5000
阻抗特性分析:采用50Ω系統(tǒng)測(cè)量輸入輸出阻抗,矢量誤差<0.5%
溫度穩(wěn)定性測(cè)試:-40℃至+85℃溫變環(huán)境下頻率漂移檢測(cè),偏差要求<±50ppm
諧波失真檢測(cè):基波與二次諧波幅度比測(cè)試,限值>30dBc
相位噪聲分析:1kHz偏移處相位噪聲測(cè)量,典型值<-130dBc/Hz
功率耐受性試驗(yàn):施加+20dBm輸入功率持續(xù)24小時(shí),檢測(cè)參數(shù)劣化
老化特性測(cè)試:85℃高溫環(huán)境下持續(xù)500小時(shí)頻率穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)
機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn):10-2000Hz掃頻振動(dòng)后電氣性能驗(yàn)證,振幅1.5mm
密封性檢測(cè):氦質(zhì)譜法檢漏,漏率≤1×10??Pa·m3/s
電極附著力測(cè)試:劃格法評(píng)估金屬膜結(jié)合強(qiáng)度,符合GJB548B標(biāo)準(zhǔn)
移動(dòng)通信濾波器:5G基站用高頻諧振器,工作頻段2.5-3.5GHz
物聯(lián)網(wǎng)傳感器節(jié)點(diǎn):溫度/壓力傳感SAW器件,尺寸≤3×3mm
衛(wèi)星導(dǎo)航模塊:GPS/北斗接收機(jī)用溫補(bǔ)型諧振器
汽車電子控制系統(tǒng):發(fā)動(dòng)機(jī)ECU用抗干擾諧振器件
醫(yī)用植入設(shè)備:起搏器用低頻低功耗諧振元件
壓電陶瓷基片:128°Y切型鉭酸鋰晶圓測(cè)試
金屬電極材料:鋁/銅復(fù)合膜層厚度檢測(cè)范圍50-200nm
封裝結(jié)構(gòu)體:陶瓷/金屬氣密封裝氣密性驗(yàn)證
晶圓級(jí)器件:6英寸晶圓上諧振單元參數(shù)一致性篩查
航天級(jí)諧振器:抗輻射加固器件可靠性驗(yàn)證
聲表面波標(biāo)簽:RFID識(shí)別芯片頻率編碼檢測(cè)
微流控生物芯片:液體傳感用諧振器靈敏度校準(zhǔn)
IEEE 176標(biāo)準(zhǔn):壓電器件振動(dòng)模式測(cè)試規(guī)范
IEC 62276:聲表面波器件通用測(cè)試方法
GB/T 12273-2017:射頻聲表面波器件總規(guī)范
MIL-PRF-55310D:軍用聲表面波濾波器通用要求
JIS C6704:壓電陶瓷諧振器測(cè)量方法
GB/T 12865-2017:聲表面波器件用單晶晶片規(guī)范
ASTM F1369:聲表面波器件加速壽命試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
SJ 21455-2018:聲表面波器件電參數(shù)測(cè)試方法
ISO 7624:電子元器件振動(dòng)試驗(yàn)通用程序
GB/T 2423:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀:0.01-20GHz頻段S參數(shù)測(cè)試,支持T/R與S參數(shù)校準(zhǔn)
探針測(cè)試臺(tái):微波探針接觸阻抗<0.1Ω,晶圓級(jí)器件在片測(cè)試
高低溫試驗(yàn)箱:-70℃至+180℃溫控,變溫速率15℃/min
激光干涉儀:振動(dòng)模態(tài)分析,位移分辨率0.1nm
頻譜信號(hào)分析儀:相位噪聲測(cè)量底噪-170dBc/Hz
掃描電子顯微鏡:電極形貌觀測(cè),放大倍數(shù)10-100萬倍
X射線衍射儀:壓電晶體取向分析,角度分辨率0.001°
原子力顯微鏡:表面粗糙度檢測(cè),縱向分辨率0.1nm
氦質(zhì)譜檢漏儀:最小可檢漏率5×10?13Pa·m3/s
阻抗分析儀:LCR參數(shù)測(cè)試,頻率范圍1MHz-3GHz
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件