因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用電子探針進(jìn)行硫化物礦物定量分析的標(biāo)準(zhǔn)方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于在電子束轟擊下穩(wěn)定的硫化物以及砷化物、銻化物、鉍化物、碲化物、硒化物的電子探針定量分析。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于以X射線波長(zhǎng)分光譜儀進(jìn)行的定量分析;其主要內(nèi)容和基本原則也適用于以X射線能譜儀進(jìn)行的定量分析。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T15074電子探針定量分析方法通則

3術(shù)語(yǔ)和定義

3.1

硫化物礦物sulfide minerals由硫構(gòu)成陰離子團(tuán)的金屬礦物。

3.2

光片polished section將巖石或礦石樣品切割成一定大小，并將待觀測(cè)面磨平、拋光的試樣。

3.3

光薄片polished thin section將巖石或礦石樣品切割成一定大小，減薄至能透過(guò)光線，并雙面磨平、拋光的試樣。

3.4

砂光片slade grains將顆粒樣品鑲嵌在導(dǎo)電或非導(dǎo)電的鑲嵌物中或制在玻璃薄片上并進(jìn)行磨平拋光的試樣。