因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

礦石基礎(chǔ)組分分析包含主量元素（SiO?、Al?O?、Fe?O?等）與微量元素（Cu、Pb、Zn、As等）的定量測(cè)定。礦物相態(tài)鑒定通過(guò)XRD技術(shù)區(qū)分石英、長(zhǎng)石、云母等主要礦物類型及其結(jié)晶度參數(shù)。物理性能測(cè)試涵蓋比重（ASTM D854）、硬度（Mohs標(biāo)準(zhǔn)）、粒度分布（激光衍射法）及熱穩(wěn)定性（TG-DSC聯(lián)用）四大指標(biāo)。

特殊項(xiàng)目包括放射性核素（U、Th、K-40）能譜分析（HPGe探測(cè)器）、重金屬浸出毒性（TCLP法）及選礦特性測(cè)試（磁選率/浮選回收率）。針對(duì)稀有金屬礦床增加鈮鉭礦物電子探針微區(qū)分析（EPMA）與稀土元素配分模式研究（ICP-MS）。

檢測(cè)范圍

金屬礦石涵蓋磁鐵礦（Fe?O?）、赤鐵礦（Fe?O?）、黃銅礦（CuFeS?）等黑色/有色金屬原礦及精礦粉體樣品。非金屬礦包括高嶺土（Al?Si?O?(OH)?）、石英砂（SiO?≥99%）、螢石（CaF?）等工業(yè)原料。伴生礦物涉及鎢錫礦中的云母包裹體、金紅石型鈦鐵礦共生體系等復(fù)雜組分。

特殊物料包含尾礦庫(kù)沉積物（粒徑＜75μm）、冶金爐渣（CaO-SiO?-Al?O?體系）及地質(zhì)勘探巖芯樣品（鉆孔深度500-2000m）。進(jìn)口礦石需額外進(jìn)行海關(guān)HS編碼對(duì)應(yīng)元素核查與放射性豁免值驗(yàn)證。

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（XRF）用于主量元素快速篩查（檢出限0.01%-0.1%），配備FP法基體校正模型處理礦物效應(yīng)干擾。電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）實(shí)現(xiàn)多元素同步測(cè)定（線性范圍0.1ppm-1000ppm），采用內(nèi)標(biāo)法（Y/Sc）補(bǔ)償?shù)入x子體波動(dòng)。

X射線衍射儀（XRD）使用θ-2θ聯(lián)動(dòng)掃描模式（2°/min），通過(guò)Rietveld全譜擬合計(jì)算各物相質(zhì)量分?jǐn)?shù)（誤差＜3%）。掃描電鏡-能譜聯(lián)用系統(tǒng)（SEM-EDS）執(zhí)行微區(qū)形貌觀測(cè)與元素面分布成像（分辨率3nm）。

熱重-差示掃描量熱聯(lián)用儀（TG-DSC）在氮?dú)夥諊乱?0℃/min升溫至1200℃，記錄礦物脫水/分解焓變數(shù)據(jù)。激光粒度分析儀采用米氏散射理論計(jì)算粒徑分布D50值（重復(fù)性±0.5μm）。

檢測(cè)儀器

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）配備4kW銠靶X光管與8晶體分光系統(tǒng)，支持LiF200/PET等10種分光晶體組合配置。電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）配置碰撞反應(yīng)池技術(shù)（He/H2模式），實(shí)現(xiàn)超痕量元素測(cè)定（ppt級(jí)檢出限）。

全自動(dòng)X射線衍射系統(tǒng)配備高溫附件（RT-1600℃），可進(jìn)行原位礦物相變研究。場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡搭載EBSD探測(cè)器，支持晶體取向成像與晶界特征統(tǒng)計(jì)。微波消解工作站采用高壓密閉罐體設(shè)計(jì)（耐壓80bar），實(shí)現(xiàn)難溶礦物樣品的高效前處理。

激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）配備雙脈沖激光源（1064nm+532nm），適用于野外現(xiàn)場(chǎng)快速篩查。伽馬能譜儀使用BEGe寬能鍺探測(cè)器（相對(duì)效率40%），滿足放射性核素活度精確測(cè)量要求。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件